Microscopie et Spectroscopie à Force Atomique

Cet équipement est construit autour d’un microscope à force atomique (AFM), couplé à une chambre de préparation sous ultravide conçue pour la préparation des surfaces métalliques et moléculaires, dépôts contrôlées d’atomes, molécules et nanoparticules, et modifications spécifiques de leviers et pointes. La chambre est aussi équipée d’un canon à bombardement ionique et un porte-échantillon à température variable (90 K – 1600 K). Les échantillons et les pointes sont transférés dans le microscope sans exposition à l’air. Des mesures sont possibles en fonction de température, champ magnétique et électrique, et une large gamme de pressions partielles de différentes gazes.

Le microscope est utilisé pour l’imagerie AFM, FFM, MFM et STM et la spectroscopie EFS, IFS, AFS, MFS. Il permet la manipulation des nanostructures sur des surfaces et différents méthodes de nanolithographie locales. La résolution s’étale dans le domaine de femtoNewtons. Un gradient de champ magnétique de haut degré est mise en place à l’aide des circuits magnétiques nanométriques montés sur des porte-échantillons.

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