Caractérisation Optique

La plate-forme de caractérisation optique de l’IPCMS regroupe actuellement plusieurs instruments : deux spectromètres d’absorption, un spectrofluorimètre, un profilomètre optique, deux dispositifs de mesure des temps de vie de fluorescence et une mesure de l'efficacité de photoluminescence. Un cryostat et d'autres accessoires permettent de travailler sous atmosphère et température contrôlées. La plateforme est accessible à l’ensemble des personnels de l’IPCMS et aux chercheurs extérieurs travaillant aussi bien dans un cadre public que privé. D'autres systèmes de mesure sont en développement pour étendre la gamme d'activités à d'autres domaines temporels et spectraux, d'autres matériaux et d'autres caractéristiques photophysiques. 

SPECTROFLUORIMÈTRE

Gamme spectrale : 
Excitation : de 250 nm à 700 nm.
Emission  : de 350 nm à 900 nm.
Mesures de spectres d’émissions, de spectres d’excitation ou « 2D » (balayages simultanés de la longueur d’onde d’excitation et de la longueur d’onde d’émission).
Résolution en polarisation à l’excitation et à l’émission.
Échantillons :
Solutions liquides : support de cuves spectro 1 cm x 1 cm.
Films solides : support pour lame porte-objet.
Poudre et matériaux diffusants : sphère intégrante accueillant des tubes de quartz.

SPECTROMÈTRE D’ABSORPTION

Spectrophotomètre UV-Vis-PIR Perkin-Elmer Lambda 950
Gamme spectrale :
de 190 nm à 3300 nm en transmission et en réflexion.
de 190 nm à 2500 nm avec la sphère intégrante.
Échantillons :
Solutions liquides : support de cuves spectro 1 cm x 1 cm.
Films solides : support pour lame porte-objet.
Poudre et matériaux diffusants : sphère intégrante pour la collection de la lumière diffusée.
Possibilité de mesure en réflexion spéculaire à angle variable pour films et couches minces.

PROFILOMÈTRE OPTIQUE

Profilomètre optique Zygo Newview
Le profilomètre optique permet de faire
des mesures de topographie à l’échelle microscopique. Il est couramment utilisé
pour la mesure sans contact de l’épaisseur
des échantillons.
Résolution latérale : 3 µm.
Résolution verticale : 2 nm.
Epaisseur maximale : 100 µm.

SPECTROMÈTRE D’ABSORPTION

Spectrophotomètre UV-Vis Hitachi U3000
Gamme spectrale : de 200 nm à 900 nm en transmission.
Echantillons :
Solutions liquides : support de cuves spectro 1 cm x 1 cm.
Films solides : support pour lame porte-objet.

FLUORESCENCE RÉSOLUE EN TEMPS

Spectrofuluorimètre de déclin de fluorescence
Excitation :
373 nm, 445 nm, 636 nm
Émission : 220 nm - 850 nm
Résolution temporelle : < 50 ps
Échantillons :
Solutions liquides : support de cuves spectro 1 cm x 1 cm
Contrôle de l'atmosphère :
vide, azote, argon...
Contrôle de la température : ambiante - 77 K

FLUORESCENCE RÉSOLUE EN TEMPS

Spectroflurimètre de déclin de fluorescence
Excitation : 280 nm, 340 nm, 365 nm, 405 nm, 470 nm, 590 nm, 630 nm
Émission : 300 nm - 800 nm
Gammes temporelles : 4 ns - 10 s
Échantillons :
Solutions liquides : cuves spectro 1 cm x 1 cm, 1 cm x 1 mm
Films
Poudres

RENDEMENT QUANTIQUE DE PHOTOLUMINESCENCE

Quantaurus-QY Absolute PL quantum yield spectrometer
Excitation : 250 nm à 850 nm
Émission : 300 nm - 950 nm
Échantillons :
Solutions liquides : support de cuves spectro 1 cm x 1 cm.
Poudre : coupelles silice

Contacts :

Chargé de Recherche, Optique Ultra-rapide et Nanophotonique (DON)Loic.Mager@ipcms.unistra.fr
Tél: /Bureau: 2051
Assistant Ingénieur, Optique Ultra-rapide et Nanophotonique (DON)Damien.Cianfarani@ipcms.unistra.fr
Tél: +33(0)3 88 10 71 81Bureau: 2205

Réservation pour la plate-forme de caractérisation optique