Diffraction des rayons X

La plateforme de diffraction des rayons X (DRX), certifiée ISO 9001 : 2015,  est équipé de différents diffractomètres pour l’étude des matériaux cristallins sous forme de poudres, de couches minces ou de monocristaux :

  • Bruker D8 Advance (poudres)
  • Rigaku SmartLab (couches minces)
  • Nonius Kappa CCD (monocristaux)

De plus le laboratoire dispose de bases de données cristallographiques actualisées (ICDD-PDF) permettant d’effectuer des recherches de phases. Les travaux dans ce domaine concernent toutes les études cristallographiques depuis l’identification de phase jusqu’à la résolution de structure sur poudre ou monocristal.

De nombreuses informations peuvent être obtenues sur les matériaux cristallins à l’aide de ces outils :

  • Identification de phase
  • Mesure de paramètres de mailles
  • Résolution structurale
  • Mesure de contrainte
  • Texturation
  • Détermination de relation d’épitaxie
  • Cartographie de l’espace réciproque
  • Analyse possible sur de faible quantité de matière

Pour toutes demandes de renseignement, de mesure ou de devis veuillez-vous référer aux contacts.

Contacts

Marc LENERTZ

Ingénieur d'Etude, Chimie des Matériaux Inorganiques (DCMI)marc.lenertz@ipcms.unistra.fr
Poste: +33(0)3 88 10 71 84Bureau: 2012
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Chargé de Recherche, Chimie des Matériaux Inorganiques (DCMI)christophe.lefevre@ipcms.unistra.fr
Poste: +33(0)3 88 10 71 28Bureau: 2008
Voir la page personnelle

Poudres : Bruker D8

Diffractomètre prévu pour l’analyse des matériaux polycristallins. Son détecteur multicanaux Lynxeye permet des acquisitions rapides. Il permet aussi de s’affranchir de la fluorescence grâce à une discrimination en énergie : les matériaux à base de Co, Fe ou Mn ne posent donc pas de problèmes.

Il est adapté pour :

  • L’identification de phase
  • La mesure de paramètres de maille
  • La détermination de structure
  • La mesure de contraintes

Caractéristiques

  • Générateur de rayons X : Tube Cu (λ1 = 1.54056 Å)
  • Géométrie : Bargg – Brentano (possibilité de le mettre en transmission sur demande)
  • Monochromateur avant Ge
  • Détecteur linéaire dispersif en énergie Lynxeye (1D, 192 canaux couvrant 4°)
  • Température et pression ambiante

Films minces : Smartlab Rigaku

Le diffractomètres SmartLab Rigaku est conçu pour la caractérisation des couches minces ou de matériaux texturés. Son anode tournante permet d’obtenir un très haut flux de photons X autorisant l’analyse de très faibles quantités de matière.

Usages

  • Mesures d’épaisseur et de rugosité (couche inférieur à 200 nm)
  • Mesures de texture
  • Identification de phase
  • Mesure de paramètres de maille
  • Mesure de contraintes
  • Détermination de relations d’épitaxie

Caractéristiques

  • Générateur de rayons X : Anode tournant 9 kW Cu (λ1 = 1.5406 Å)
  • Géométrie : faisceau parallèle ou Bargg – Brentano
  • Monochromateur avant 2 x Ge (220)
  • Détecteur ponctuel avec atténuateur automatique
  • Analyseur (monochromateur arrière) disponible sur demande.
  • Température et pression ambiante

Monocristaux : Nonius Kappa CCD

Diffractomètres à monocristaux pour la résolution de structures cristalline. Un microscope binoculaire polarisant est disponible pour le montage des cristaux ainsi qu’une station de travail avec les logiciels Jana et wingx (shellX) pour la détermination et l’affinement de structure.

Usage

  • Détermination de structure cristalline

Caractéristiques

  • Générateur de rayons X : Tube Mo (λ1 = 0.71 Å)
  • Géométrie : Kappa
  • Monochromateur graphite
  • Détecteur bidimensionnel CCD
  • Température de 77 K à température ambiante
  • Stéréo Microscope Leica M80 équipé de lumière polarisée et d’une caméra IC80 HD